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半導(dǎo)體pct試驗(yàn)箱系列是一種功能強(qiáng)大、應(yīng)用廣泛的設(shè)備，它通過(guò)模擬的環(huán)境條件，可以評(píng)估產(chǎn)品的耐久性和可靠性，為產(chǎn)品的研發(fā)、改進(jìn)和質(zhì)量控制提供有力支持。主要用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝的濕氣能力，將待測(cè)產(chǎn)品置于嚴(yán)苛的溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿著膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體。

hast高壓老化箱測(cè)試系統(tǒng)被廣泛應(yīng)用于電子元器件行業(yè)、汽車(chē)電子領(lǐng)域、光電產(chǎn)業(yè)、醫(yī)療器械領(lǐng)域以及航天航空領(lǐng)域，用于測(cè)試半導(dǎo)體制造、電子元件、印刷電路板（PCB）、汽車(chē)電子控制系統(tǒng)、LED制造與檢測(cè)、光通信器件、小型植入式醫(yī)療器械、航天電子設(shè)備等產(chǎn)品的耐高溫高濕能力，多端口數(shù)據(jù)支持：具有USB接口，可直接復(fù)制記錄歷史曲線和數(shù)據(jù)，也可通過(guò)RS-232或RS-485接口控制機(jī)器并將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)硬盤(pán)上

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱定制是一種用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料及其他電子零件在高溫、高濕、高壓環(huán)境下的可靠性的設(shè)備。采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤(rùn)飽和控制等三箱控制模式，滿足國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)要求 。 。

HAST壽命試驗(yàn)箱采用7寸真彩觸摸屏操作界面使得設(shè)備操作更為便捷，同時(shí)支持USB數(shù)據(jù)下載，便于試驗(yàn)數(shù)據(jù)的記錄和分析。用于對(duì)電子元件、半導(dǎo)體、電路板等進(jìn)行加速老化測(cè)試，以驗(yàn)證其在惡劣環(huán)境下的性能和穩(wěn)定性。相較于進(jìn)口設(shè)備，國(guó)產(chǎn)HAST實(shí)驗(yàn)箱具有更高的性價(jià)比，為中小企業(yè)提供了可靠的測(cè)試解決方案。

國(guó)產(chǎn)HAST試驗(yàn)箱是一款高效能的試驗(yàn)設(shè)備，專(zhuān)為在高濕高溫及高壓環(huán)境下測(cè)試材料和產(chǎn)品的耐久性而設(shè)計(jì)。它通過(guò)模擬氣候條件，加速材料老化過(guò)程，幫助研究人員和工程師快速評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用中的可靠性。該設(shè)備采用先進(jìn)的控制系統(tǒng)，確保溫濕度和壓力的精確調(diào)節(jié)，滿足多樣化的測(cè)試需求。其雙層圓弧內(nèi)膽設(shè)計(jì)有效避免了試驗(yàn)過(guò)程中的結(jié)露滴水現(xiàn)象，保障了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。