半導體制冷片高低溫試驗箱提供高溫、低溫、高溫、低溫的環(huán)境，主要用與光伏行業(yè)，及太陽能行業(yè)的 測試設備，用于測試光伏組件，主要是單晶硅組件，地面用晶體硅光伏組件，地面用薄膜光伏組件等一系列的光伏組件進行試驗可以再現(xiàn)環(huán)境所產生的破壞。

高低溫試驗箱內箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等

半導體制冷片高低溫試驗箱程序容量及控制功能:

120個程序儲存能力，1200段，每組最多99段

段運行最長時間：999小時59分59秒

程序可部分循環(huán)，全循環(huán)，最多999回，部分循環(huán)，最多99回。

程序之制作采對談式,具有編輯、清除、插入等功能.

具有斷電程序記憶,復電后自動啟動并接續(xù)執(zhí)行程序功能.

標配RS232/485通訊，選配CE(以太網)通訊。通過軟件，可以控制設備的運行/停止或相關參數(shù)的更改。具有預約啟動及關機功能.

具有帶電池保護的SRAM，可保存設備的設定值、采樣值及采樣時刻的時間，可在屏上手指觸摸實時滑動觀察數(shù)據(jù)

具有日期,時間調整功能.

按鍵及畫面鎖定（LOCK）功能.

記錄功能，標配2G SD卡，試驗過程中，可實時保存數(shù)據(jù)。通過相關軟件，可做數(shù)據(jù)分析或EXCEL轉換。

GB2423.1-2008《電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法》GB2423.2-2008《電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法》

GB2423.4-2008《電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變試驗方法》GB2424.1-2005《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則》

GB2423.22-2008《電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法》GB/T5170.2-2008《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備》GB2423.3 - 2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;

冷凍系統(tǒng)

風冷式歐美進口全封閉壓縮機、環(huán)保型冷煤

加熱：不銹鋼鰭片式加熱管加熱方式內、外箱材質

內箱：SUS＃304鏡面不銹鋼板；外箱：SUS＃304霧面線條處理不銹鋼板或優(yōu)質鋼板烤漆

保溫層:聚胺脂硬質發(fā)泡+玻璃纖維棉

門框材質:雙層耐高低溫硅橡膠密封條

標準配置:多層加熱除霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔(φ50mm)1個

安全保護:電機過熱、超溫、壓縮機超壓、過電流保護、過載、加熱加濕空焚、欠相逆相

電源電壓:1∮,AC220V±10％/30A AC380V±10％50±1Hz